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动态二次离子质谱仪（D-SIMS）

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动态二次离子质谱仪（D-SIMS）在材料分析中的用途

动态二次离子质谱仪（ D-SIMS ）在材料分析中的用途动态二次离子质谱仪 D-SIMS 是一种材料表面分析技术，它基于二次离子发射原理，利用高能离子束轰击样品表面，通过分析产生的二次离子来获取材料表面的化学信息。 D-SIMS 技术在材料科学、半导体、薄膜、生物医学、地质学等领域具有广泛的应用...

2023-12-14

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动态二次离子质谱技术(D-SIMS)改变表面分析的局限性

动态二次离子质谱技术 (D-SIMS) 改变表面分析的局限性动态二次离子质谱技术（ Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry ，简称 D-SIMS ）是一种先进的表面分析技术，它通过对样品表面进行高能离子轰击，产生微量的二次离子，并通过质量分析器对这些二次...

2023-12-14

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一文读懂D-SIMS

动态-二次离子质谱（D-SIMS）用气体等离子源轰击样品,使样品表面原子、分子或离子等溅射出来，用质量分析器接收溅射出的二次离子，通过分析其质荷比（m/z)获得二次离子质谱。由于D-SIMS的离子源为高密度离子束（原子剂量10 12 ions/cm 2 ）,对样品的溅射作用大，故是一种破坏性分析。...

2019-10-25

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