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项目介绍

掠入射X射线散射（GIXS）包括掠入射广角散射（GIWAXS）和掠入射小角度散射（GISAXS），是基于同步辐射光源的X射线散射技术，用于表征表面或薄膜中的纳米级密度相关性、纳米物体形状以及晶格中的原子和分子距离，被广泛应用于研究有机太阳能电池、钙钛矿太阳能电池的形貌特征、晶体结构等。

例如在OPV材料结构研究中，GIWAXS被用来探测分子尺度、结构信息，常用于研究有机给体和受体材料在活性层中的分子堆叠，如结晶度、晶格常数和取向性。GISAXS可以看作是传统小角散射和全反射测量的结合，能够获得表面、薄膜、覆盖层中的纳米结构（如纳米颗粒、量子点等）的尺寸分布、形状以及排列分布的相关信息。

提供优质快速的GIXS测试和数据分析服务，目前已同南昌大学、南京理工、华南理工、电子科大等众多OPV、钙钛矿课题组开展测试合作。

样品要求

提示：GIWAXS/GISAXS测试有同步辐射光源和常规光源，请先根据文献或测试需求确认是否需要同步辐射光源测试GIWAXS/GISAXS。

1.样品测试请提供空白基底样，要求在空白基底上沉积与器件制备工艺一致的传输层且测试收费；

2.基底多为单晶硅，可提供，若自行准备尺寸不可超过2.5*2.5cm，1*1cm最好，默认样品不回收；

3.测试前请明确测试条件，如q值范围、掠入射角度范围、曝光时间等；

4.如对数据格式、数据处理有疑问，请先浏览数据说明；

5.同步辐射项目测试为机时预约制，需测试前付费预约；

6.请根据材料的耐氧、耐湿等性质，妥善封装样品；

7.如有任何测试相关问题，请联系负责人解答。

项目案列

Adv.Funct.Mater.2020,1909837:三元有机太阳能电池

J.Mater.Chem.A.2020.8.5458-5466:非富勒烯太阳能电池

常见问题

测试效果不好是什么原因导致？

散射信号会包含基底的信息，如不能完全扣除背底信号，就会导致无效信号干扰样品信号，同时以下情况也是原因之一

1. 制样不均匀，光斑打在了不合适位置；

2. 样品表面不平整，影响信号；

3. 掠入射角度选择不适宜；

4. 线站测试问题，如光束线不稳等。

积分是怎么获得的？

数据处理可以得到2D图，处理转换得到面内外积分，角度积分，并不是直接测试得出

测试波长是否可调节？

一般可以调节，需要先确认适用波长，并与线站沟通是否能达到条件。

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