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微区XPS

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项目介绍

XPS可定性定量分析固体材料表面成分信息(包括元素组成、化学态等),通过聚焦X射线还可以进行微区选区和定位分析从而表征成分的分布情况(最小采谱区域可小于10 μm),所以XPS可被广泛应用于分析合金、矿物、半导体、高分子聚合物、催化剂、硅酸盐陶瓷、生物医药、能源材料等。

微区XPS可以应对从大面积到微区的分析需求,既可以表征表面成分、表面多层薄膜等,又可以对环境颗粒物、表面缺陷(腐蚀、异物、污染、分布不均等)进行微区定位分析,因此对于各种材料开发,材料剖析与失效机理的分析和研究具有不可替代的作用。

样品要求

1. 预处理尺寸要求:块体/片状/薄膜:长宽厚不超出1 × 1 × 0.3 cm(磁性样品尽量小)(对块状样品或薄膜样品的测试面做好标记);粉末样品大于200目,不少于10mg,量少的请用称量纸包好再装到管子里寄。请勿用手触摸样品表面,会引入污染;制好样后请尽快密封,避免其他物质污染;

2. 送样前样品需充分干燥,否则影响仪器真空度;高分子样品在送样前应进行干燥处理;若含有高挥发性分子等,请务必烘烤;

3. 样品含有硫或碘等卤族元素请务必填写或者提前告知,避免污染高真空系统;

4. 样品在超高真空及在X射线、紫外线、电子束或Ar离子束照射下应稳定,不分解、不释放气体。

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