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项目介绍

原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）：是一种可以用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小针尖，使之与样品表面轻轻接触。由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，会使悬臂发生微小的偏转。通过检测出偏转量并作用反馈控制其排斥力的恒定，就可以获得微悬臂对应于各点的位置变化，从而获得样品表面形貌的图像。

样品要求

1. 薄膜样品，尺寸不大于2*2cm（请备注好测试面）；

2. 粉末样品，质量不少于5mg；

3. 液体样品，体积不小于1ml（浓度不确定，可以加送溶剂空白样，进行测试前稀释）；

4. 测试温度：室温~250°C。

项目案列

常见问题

AFM测试范围最好小于多少？一般能测多大?

答：小于80×80μm；能测10×10μm、20×20μm、50×50μm。

AFM粉末样品制样的常用基底有哪些？

答：常用基底有3种：HOPG（高定向石墨），MICA（云母），Si-chip（硅片）。HOPG的优点是导电，主要用于导电样品的测试。MICA和Si-chip都是常用基底，主要是提供一个平面，可以根据参考文献或之前的测试条件来选取。

为什么AFM测试中，样品表面粗糙度不能太大？

答：一般AFM仪器允许的最大高度差是10μm（部分仪器更小），对于表面起伏过大的样品，一方面可能超出仪器测试范围，另一方面可能导致跳针、针尖受损或污染，从而影响图像质量，增加损耗成本。

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