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    AFM原子力显微镜的几种工作模式及比较
    来源： 时间：2024-11-07 09:42:05 浏览：2663次

    AFM原子力显微镜的几种工作模式及比较

     

    原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是一种具有高分辨率和高精度的扫描探针显微术，它能够通过探测样品表面与探针之间的相互作用力来获得表面的三维形貌和物理特性；AFM的工作模式多样，不同的工作模式适用于不同的研究和应用领域。

    一、接触模式（Contact Mode）

    接触模式是最早开发的AFM工作模式。在这种模式下，探针尖端与样品表面保持接触，并通过探针与样品之间的相互作用力来维持恒定的偏置力；当探针在样品表面扫描时，悬臂梁的弯曲或振动会被检测器记录下来，从而得到表面的形貌信息。

    1. 工作原理：悬臂梁带有探针，当探针接触样品表面时，由于相互作用力，悬臂梁会发生弯曲；通过维持悬臂梁的弯曲恒定，可以保持探针与样品之间的力恒定；悬臂梁的振动被激光束检测，并转换为表面形貌图。

    2. 优点：简单易操作，成像速度快；分辨率高，适用于硬质和相对平整的样品。

    3. 缺点：探针与样品的接触可能会对软质或易损伤的样品造成损坏；在扫描过程中可能会产生摩擦力，影响图像质量。

    二、非接触模式（Non-contact Mode）

    非接触模式也称为轻敲模式（Tapping Mode），在这种模式下，探针尖端在样品表面上方以一定的频率振动，并在不接触样品表面的情况下进行扫描。

    1. 工作原理：探针以一定的频率和振幅在样品表面上方振动，当探针接近样品表面时，由于相互作用力的变化，振动的振幅和相位会发生变化；通过检测这些变化，可以得到样品表面的形貌信息。

    2. 优点：减少了探针与样品之间的摩擦和磨损，适用于软质或易损伤的样品；提供了较高的成像分辨率和表面细节。

    3. 缺点：成像速度相对较慢，对探针的质量和操作技巧要求较高。

    三、力调制模式（Force Modulation Mode）

    力调制模式是一种在接触模式下进行的变体，它通过施加一个小的交流力来探测样品的力学性质。

    1. 工作原理：在接触模式下，探针尖端与样品表面接触，并施加一个小的交流力；通过检测交流力引起的悬臂梁振动的振幅和相位变化，可以得到样品的弹性、粘弹性等力学信息。

    2. 优点：可以同时获得样品的形貌和力学性质信息；适用于研究软物质和生物样品的力学特性。

    3. 缺点：对操作者的技术和仪器的要求较高；成像速度较慢。

    四、液体环境下的AFM（Liquid AFM）

    液体环境下的AFM是在常规AFM的基础上，将样品浸入液体中进行的成像。

    1. 工作原理：将样品和探针浸入液体中，探针在液体环境中进行扫描；通过探测探针与样品之间的相互作用力，可以得到样品在液体环境下的形貌和性质。

    2. 优点：适用于研究生物样品、化学反应过程和液体界面现象；可以在接近生理环境的条件下进行成像。

    3. 缺点：液体环境下的成像控制较为复杂，液体中的布朗运动可能会影响成像质量。

    五、比较

    接触模式和非接触模式的主要区别在于探针与样品之间的接触状态；接触模式适用于硬质样品，而非接触模式适用于软质样品；力调制模式在接触模式的基础上增加了力学性质探测的功能，适用于需要了解样品力学性质的研究；液体环境下的AFM为研究生物样品和液体界面现象提供了可能，但操作难度较大。

     

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    全部 3小时前 四川
    文字是人类用符号记录表达信息以传之久远的方式和工具。现代文字大多是记录语言的工具。人类往往先有口头的语言后产生书面文字，很多小语种，有语言但没有文字。文字的不同体现了国家和民族的书面表达的方式和思维不同。文字使人类进入有历史记录的文明社会。
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