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    电子通道衬度成像（ECCI）原理及在晶体缺陷分析中的应用

    晶体是大量结构单元（原子或者分子）在空间规则周期排列形成的，当原子或者分子堆砌出现错误时，便会形成缺陷，按照缺陷引起的畸变的维度大小，可分为点缺陷、线缺陷、面缺陷和体缺陷（位错，层错，晶界等），缺陷的类型、数量、晶粒间的取向关系等与材料的宏观性能密切相关。 通常研究人员使用透射电子显微镜（TEM）...

    2023-12-19

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