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同步辐射吸收谱(XAS)

预存价4000.00元起   挂牌价5000.00元起
已预约 181 99% 满意率
硬线XAFS+XANES测试
软线XANES测试
数据拟合分析
XANES+EXAFS测试,数据解析,免费技术答疑和交流,最快可两周取数据

送样须知:

1、粉末样品量至少30mg,越细越好,最好能过200目筛子,400目更好,一般研磨20分钟差不多。

2、块体样品要求测试面光滑,大小不超过5*5*5mm

3、各种元素的泊片和常见氧化物参比样品测试不额外收费。

4、若个别数据解析难度大,费用会上浮,最高不超过50%。


X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structureXAFS)也叫做X射线吸收谱(X-ray absorption spectroscopyXAS),是一种基于同步辐射光源的,研究材料局域原子、电子结构的一种有力的工具。XAFS广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域,主要是基于以下优点:

1、不依赖于长程有序结构,可用于非晶态材料的研究;

2、不受其它元素的干扰,可对同一材料中不同的元素分别研究;

3、不受样品状态的影响,可以测量固体(晶体、粉末),液体(溶液、熔融态)和气体等;

4、对样品无破坏,可以进行原位测试;

5、能获得高精度的配位原子的种类、配位数以及原子间距等结构参数,一般认为原子间距的精确度可达0.01 Å

6、检测下限低,最低可达几个ppm


XAFS数据解析方面,可提供以下数据及服务:

1、XANES部分图谱,提供价态、初步结构的定性分析;

2、EXAFS拟合,提供配位原子种类、配位数和键长信息,以及简单的、从物理角度对谱的分析;

3、wavelet图谱,作为EXAFS拟合的进一步证据,并用小波炫图提高数据分析逼格

4、文章实验部分及数据讨论部分的修改,检查对结果的描述是否准确,是否有偏差;

5、帮忙回复审稿意见中关于XAFS的问题,提供中文回答。




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