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场发射扫描电镜(SEM)

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生物SEM
形貌
点扫EDS
线扫EDS
面扫Mapping
BSE
组合(形貌+能谱)
可拍磁性样;最小标尺100nm;最大20万倍;

送样须知:

1、块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm

2、粉末样品大于10mg

3、含样品测试时均需干燥后测试;

4、块体、片状、薄膜样品请标注测试面

5、需备注照片倍数、标尺、张数

6、粉末不能测试线扫

7、500nm100nm测试地点不同,仪器、数据格式可能不同,望知晓;

8、能谱备注理想区域,如果没有备注,不免费复测。


广泛应用于复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、生物材料、电子材料等块体、片状、薄膜样品的微观形貌分析及其成份定性分析

是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。

测试案例-20190326-SEM-修改大.jpg

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