预存
    常规测试
    FIB-TEM样品制备技术

    FIB-TEM样品制备技术

    • 课程介绍
    • 讲师介绍

    课程大纲:

    1.样品前处理

    根据样品导电性好坏确定是否需要喷金或喷铂处理

    2.样品定位

    通过E-Beam确定样品的目标位置

    3.蒸镀保护层

    根据样品成分选择合适的材料在样品的目标区域蒸镀保护层

    4.U-Cut

    将样品的目标区域四周刨掉,只留下U型目标区域

    5.提取样品

    U-Cut后的样品通过Easylift提取到载具上

    6.样品减薄

    根据具体测试需求对样品进行减薄

    用户须知

    全直播授课,支持观看回放,禁止下载跟录播!老师全程跟踪每一节,并在班群实时解答疑问。 下单即享好礼,详情请咨询GO小妹。

    GO小妹

    扫码添加企业微信

    GO小妹:156-8075-0806